多功能光電化學測試系統

2019-01-03 admin


型號:ModuLab XM PhotoEchem IPCE

 

特點:

1、頻域和時域的測試技術,包括:IMPS,IMVS,阻抗,光電壓衰減,電量抽取和I-V曲線和IPCE測量;

2、對有效擴散系數的計算和電子壽命的“自動”數據分析的“一鍵式”操作,適合于對頻域測試技術比較陌生的使用者;

3、帶有NIST(美國國家標準與技術研究院測試標準)可追溯校準文件的光源,并且日??梢詫ζ溥M行校驗檢查;

4、長期穩定的卓越熱效管理的光源,提供一系列的高亮度單色LED光源;

5、軟件包含全套電化學測試技術,包括:循環伏安(C-V),恒電壓-電流測試,系列的阻抗測試方法以及交流伏安法;

6、輔助分壓功能可用于同時檢測陽極和陰極的阻抗和電壓;

7、Solartron Analytical的頻率響應分析(FRA)技術,包含單波,頻率掃描和多波技術;

完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能

 

不僅是一個光電化學測試體系

 

Modulab XM PhotoEchem集合了功能強大的ModuLab頻率響應分析(FRA)和恒電位儀技術?,F有Modulab 系統通過配備選項卡和光學工作臺即可升級為Modulab XM PhotoEchem。

 

豐富的實驗程序包:

為光電化學測試系統專門研發設計的專用軟件套裝,包括:

1、強度調制光電流譜(IMPS)

2、強度調制光電壓譜(IMVS)

3、阻抗譜

4、I-V曲線

5、電量抽取

6、短路電量抽取

7、暗室電量抽取

8、光電壓衰減

9、光電轉化效率(IPCE)

 

控制光學平臺進行以上測試技術可以使研究人員開發出更多光電研究的測試技術。

 

創新點: 

英國Bath大學物理化學Laurie Peter教授為技術顧問,以英國輸力強公司最新電化學系統-Modulab為平臺 包括:IPCE,IMPS,IMVS,阻抗,光電壓衰減,電量抽取和I-V曲線測試等多種光電測試技術 對海量數據的分析實現“一鍵式”操作,方便且準確得到分析結果 采用FRA進行小信號測試,并標配白光偏置,利用FRA的偏置抑制技術。 帶有NIST(美國國家標準與技術研究院測試標準)可追溯校準文件的光源,可在日常方便進行校驗檢查。